MCP対応AI × PINPOINT V2

基板のデバッグを
AIが自律的に実行

測定点の選定から結果の分析まで、AIに任せる。

グラファイトのPinpoint v2 全景

MCP対応AIが基板データを読み、Pinpointと計測器を操作。人が操作を一つずつ指示しなくても、測定・分析・追加調査を繰り返します。企業で導入済みのAIも、MCPに対応していれば利用できます。

基板データを参照 → 実測 → 分析 → 追加測定

電子機器の開発・評価・研究部門向け AI自律デバッグシステム

自律デバッグの仕組み

AIが測定と分析を繰り返し、 原因を絞り込む

基板データと調べたい症状をもとに、MCP対応AIが調査を進めます。測定箇所の選定、装置の操作、結果の分析、次の測定の判断を、一連の作業として自律的に実行します。

AIに渡す情報
回路図・基板レイアウト調べたい症状・目的
調査を進めるAIMCP対応AI
  1. 1

    基板データを読む

    部品や配線のつながりを読み取り、調べる回路と測定点を決めます。

  2. 2

    実機で測定する

    Pinpointの針を測定点へ動かし、接続した計測器から測定結果を取得します。

  3. 3

    結果を分析する

    測定値を回路の意図と照らし合わせ、不具合の原因について仮説を立てます。

  4. 4

    次の測定を決める

    仮説を確かめるための測定点や条件を選び、追加の測定へ進みます。

測定結果を次の判断に使い、測定・分析を自動で繰り返す

担当者が受け取るもの

測定結果・原因の候補・次に取るべき対応

導入メリット

人が付きっきりで進める調査を、AIへ

担当者が回路図を読み、針を動かし、結果から次の測定を考える。その繰り返しを、MCP対応AIとPinpointが引き受けます。

デバッグの工程従来:担当者が進める導入後:AIが自律的に進める
1測定箇所を選ぶ

回路図と症状を見比べ、調べる部品や測定点を一つずつ決める。

MCP対応AI

AIが基板データを参照し、症状に関係する回路と測定点を選ぶ。

2基板を測定する

測定点に針を合わせ、計測器を操作して値を読み取る。

AI → Pinpoint・計測器

AIがPinpointと計測器を操作し、針の移動・接触と測定結果の取得を進める。

3原因を分析する

測定値と設計を照らし合わせ、不具合の原因を考える。

MCP対応AI

AIが実測値と基板データを比較し、原因の仮説を立てる。

4追加の調査を進める

次の測定箇所を決め、操作と分析を繰り返す。

AIが測定・分析を反復

AIが次の測定を判断して実行。結果を分析しながら原因を絞り込む。

測定ごとの指示が不要

測定点や次の操作を人が都度指定する手間を減らし、調査の進行をAIに任せられます。

調査中は別の開発作業へ

装置の操作に付きっきりになる時間を減らし、担当者は設計や修正方針の検討に取り組めます。

既存設備を自動化に活用

保有する計測器とAIを組み合わせ、基板のデバッグを自動化できます。

システム構成

AIの判断を、実機の測定につなぐ

MCP対応AIが調査を判断し、Pinpointが基板に接触。計測器で得た実測値をAIに戻すことで、次の判断と操作へつなげます。

MCP対応AI

↓ 測定・操作の指示  ↑ 測定結果・装置の状態

お使いの計測器

電圧・信号を実測

Pinpoint v2

Pinpoint v2

AIの指示で針を移動・接触

測定対象の基板

基板データと実物を照合

MCPは、AIと装置をつなぐ共通の仕組みです。企業で導入済みのMCP対応AIから、お客様のPC上の接続用ソフトを介して、操作指示と取得した情報を受け渡します。

Pinpoint独自のAI利用料は不要

お客様が導入済みのMCP対応AIを利用できます。AIの料金・利用上限・データ取り扱い条件は、ご利用環境に従います。

プローブの動作

AIが選んだ測定点へ、2本のプローブを移動

測定用の針(プローブ)が独立して動き、基板上の2か所へ接触します。AIの調査手順に沿って、移動・接触・測定・退避を進めます。

AIの測定手順を実行するプローブ機構12 SEC / CONCEPT CG

1 × 0.5 mm

約1 mmの小さな部品にも接触

動画の部品は1 × 0.5 mm。長さは、0.5 mmのシャープペンシルの芯を2本並べた幅ほどです。針先を部品両端の接続部分に当てます。

0.5 mmの芯 2本の断面
1 × 0.5 mmの部品
同じ縮尺で拡大表示

観察と状態取得

基板の画像も、調査の情報に

測定値に加えて基板の画像や装置の状態を取得し、AIが実機の状況を参照しながら調査を進めます。

部品や接触位置を拡大撮影

USB顕微鏡と内部LEDで基板を撮影。部品周辺やプローブの接触位置を画像で確認できます。

部品や接触位置を拡大撮影

プローブ周辺の状況を把握

距離センサーで作業領域を確認し、ケーブルなどの異物検知を補助します。

プローブ周辺の状況を把握

利用の流れ

基板と目的を用意し、デバッグをAIへ

開始後は、測定点の選定から測定・分析・追加調査までAIが進めます。

  1. 1

    基板・計測器を接続

    担当者が基板をセットし、Pinpointと計測器を接続します。

  2. 2

    データと目的を共有

    回路図・基板レイアウトと、調べたい症状をAIへ伝えます。

  3. 3

    AIが自律デバッグ

    AIが基板データを参照し、装置の操作と測定結果の分析を繰り返します。

  4. 4

    調査結果を確認

    担当者が測定結果や原因の候補を受け取り、次の対応を決めます。

仕様

基本仕様

Pinpoint v2の正面
用途
基板データを用いたAIによる自律デバッグ
操作するAI
MCP対応AI
プローブ
独立して動く2本の測定用の針
基板サイズ
最大150 × 150 mm
小型部品への接触
1 × 0.5 mmの部品両端にアクセス
接続する計測器
オシロスコープ・ロジックアナライザなど
電圧・抵抗・導通・ロジック
接続した計測器で測定

FAQ

よくある質問

人が毎回、測定点や操作を指示しますか?

測定ごとの指示は不要です。基板データと調査目的をもとに、MCP対応AIが測定箇所を選び、Pinpointを操作し、測定結果を分析して次の調査へ進みます。

自律デバッグには何を用意しますか?

対象の基板、回路図・基板レイアウト、接続する計測器、MCP対応AIを利用するPCをご用意ください。基板を設置し、調べたい症状や目的をAIへ伝えて開始します。

手持ちの計測器を使えますか?

計測器の型番と調べたい内容をお知らせください。基板との電気的接続と、AIからの制御・測定結果の取得方法を確認し、接続構成をご案内します。

社内で導入しているAIを使えますか?

はい。MCPに対応したAIであれば利用できます。特定のAIサービスを新たに契約する必要はなく、Pinpoint独自のAIサブスクリプションやトークン従量課金もありません。

導入支援や保証はありますか?

基板データ・計測器・AIの接続を含む初回オンライン導入支援、製品保証、技術サポートについて、お見積もりと併せてご案内します。

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